膜厚計は手持ち型と卓上型の２種類に分けられています。その中に、手持ち型には磁気誘導膜厚計、電気渦電流膜厚計、蛍光X線膜厚計があります。磁気原理の膜厚計は、鉄鋼の表面のペンキ層、磁器やほうろうの保護層、プラスチック、ゴムのコーティング、ニッケルクロムを含む各種の非鉄金属メッキ層、及び化学石油業の各種の防腐コーティングを正確に測定するために適用できます。
手持ち型膜厚計の磁気誘導原理において、測定ヘッドから非強磁性皮膜を経て強磁性母体に流入する磁束の大きさを用いて、皮膜の厚みを測定するのです。また、これに対応する磁気抵抗の大きさを測定することでその皮膜の厚みを表すこともできます。
一方で、磁気誘導原理を利用する膜厚計は、原則として導磁性母体上の非導磁性皮膜の厚みを測定することができます。一般的に、母体の透磁率は５００以上になる必要です。被覆材料にも磁気がある場合、母材との透磁率の差は十分に大きいと要求されます。例えば、鋼にニッケルをメッキするものです。軟性芯にコイルを巻いた測定ヘッドを測定試料に置くと、機器は測定電流あるいはテスト信号が自動的に出力されます。
ところで、卓上型の蛍光X線膜厚計は、二次蛍光（X線で金属元素試料を一回貫通する時、低エネルギーを発生させる光子のことである。通称「二次蛍光」と呼ばれる）のエネルギーを計算することによって厚み値を計算します。
筆者：陳路安
2020年4月27日